產品詳情
一、產品簡介
KJ-SR 系列反射式膜厚測量儀可用于測量半導體鍍膜，手機觸摸屏 ITO 等鍍膜厚度，PET 柔性涂布的膠厚等厚度，LED 鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合?？捎糜跍y量 2 納米到 3000 微米的膜厚，測量精度達到 0.1 納米。 在折射率未知的情況下， 還可用于同時對折射率和膜厚進行測量。此外， 用于精確測量樣品的顏色和反射率。樣品光斑在 1 毫米以內。
KJ-SR 進行測量簡單可靠，實際測量采樣時間低于 1 秒。配合我們的 Apris SpectraSys 軟件進行手動測量，每次測量時間低于 5 秒。Apris SpectraSys 支持 50 層膜以內的模型并可對多層膜厚參數(shù)進行測量。Apris SpectraSys 軟件還擁有近千種材料的 材料數(shù)據(jù)庫，同時可對折射率進行擬合。
同時，客戶還可以通過軟件自帶數(shù)據(jù)庫對材料，菜單進行管理并回溯檢查測量結果。
二、應用領域
半導體鍍膜 , 光刻膠；藍寶石鍍膜，光刻膠；太陽能鍍膜剝離；卷對卷柔性涂布；車燈鍍膜厚度；陽極氧化厚度；玻璃減反膜測量；ITO玻璃；各種襯底上的膜厚；PET鍍層厚度等等
